瑞凱儀器廠家供應優質量 PCT高壓加速老化試驗箱

      PCT高壓加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因汙染造成之短路等相關問題。

      箱體特點有：

1、PCT高壓加速老化試驗箱外箱采用zui新優化設計,美觀大方,做工細節優良；箱內膽采用圓弧設計,複合標準安全容器標準,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接衝擊影響試驗結果。

2、大容量水箱,試驗時間長,全自動補水,試驗不中斷；微電腦飽和蒸氣濕度顯示控製器顯高精度自能溫控器,誤差±0.1℃，或根據試驗需要可采用真彩觸摸屏控製器.

5、一體成型矽膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長.電路整合設計,操作簡單,維護方便.

6、配備雙層不鏽鋼產品架,也可根據客戶產品規格尺寸免費量身定製專用產品架。

7、具有誤操作安全裝置、超壓安全保護、超溫保護、防燙傷保護等安全保護，瑞凱儀器（hwhsx.com）PCT高壓加速老化試驗箱可手動安全保護排壓伐，接受非標定製符合標準的可靠性環境試驗設備。